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活动：
主题：“ETS-800 平台的阈值测试方法总结介绍”
嘉宾：Cham Li 李崇明， 应用开发工程师，泰瑞达（上海）有限公司。10年的ATE 测试开发经验。主要从事SOC，电源管理芯片，汽车电子类芯片的 测试解决方案开发。
简介：阈值测试是一种在很多的芯片测试中都很常见的测试项，有一些不 同类型的阈值测试， 和两种主要的测试方法类型被称之为逐步搜索 和二分法搜索。 本文基于泰瑞达的ETS-800测试平台主要介绍一些 不同的逐步测试方法， 并从它们的测试时间、并行度、 稳定性、 编程调试的难易程度等方面进行比较。最后， 我们会简单介绍下阈 值逐步测试代码库，它把所有不同的测试方法集成到一个单一的测 试函数， 这使我们的代码开发和调试过程变的更加简单和灵活。
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