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05.TestConX China 2022_Rui Chen_221102

# 半导体封测 # OSAT # G 大小:3.92M | 页数:19 | 上架时间:2022-11-29 | 语言:英文
05.TestConX China 2022_Rui Chen_221102.pdf

试看9页

类型: 科技

上传者: tinyML

出版日期: 2022-11-02

摘要:

活动:TestConX China 2022 技术论坛 全球直播

主题:“Air over stub 对于 56Gbps Serdes 和 mmWave的影响及优化 ”

嘉宾:Rui "Eric" Chen,陈锐,2012年于上海获得同济大学硕士学位。毕业之后,作为一名硬件设计工程师在泰瑞达(上海)开始了他的职业生涯。在工作的前5年,从事ATE Loadboard PCB硬件设计工作,服务过TI, BOSCH, STM等知名客户。最近的5年,他专注于信号和电源完整性仿真,成功为许多种类的芯片提供了硬件解决方案。

简介:随着终端需求的发展,高频信号的应用(如 56Gbps Serdes, mmWave, …)一直在挑战着PCB的制造能力,并且对信号仿真精度要求越来越高。Via是PCB(应用板,测试板,…)的常见结构,并且Via的stub对任何高频的信号质量都有直接的影响。本文将分析Via stub对于56Gbps Serdes, mmWave信号的影响,介绍通过优化via stub带来的高频SI性能提升,并且会给出PCB生产流程以及仿真模型的相关建议。

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