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17.TestConX China2022_Yanfen Fang_221104

# 半导体封测 # OSAT # TestConX 大小:3.74M | 页数:25 | 上架时间:2022-11-29 | 语言:英文
17.TestConX China2022_Yanfen Fang_221104.pdf

试看10页

类型: 科技

上传者: tinyML

出版日期: 2022-11-04

摘要:

活动:TestConX China 2022 技术论坛 全球直播

主题:“ 基于封层结构的efuse处理代码库”

嘉宾:Yanfen Fang   爱德万测试高级应用开发工程师,于2017年获得电路与系统专业硕士研究生学位,有5年的ATE测试程序开发经验,主要从事数字,模拟及高速类芯片测试程序开发,长期为国内顶级半导体研发公司提供基于ATE平台的软件及硬件解决方案。

简介:Efuse 是半导体芯片中的一块一次性可编程存储空间。它一般被用于在交付给客户前写入一些特殊的数据,一般情况下被写入的数据会有芯片工作电压,芯片版本号,量产批次,修调数据或其他一些可以反映芯片特性的数据,写入过程将会在封装或晶圆测试阶段完成。 由于efuse是一种一次性可编程的存储空间,所以一旦数据被写入该区域中,就无法被后期修改为其他信息。或者严格来说每一个字节的内容只可以被修改一次,这将意味着一旦写入数据出现错误,而这颗芯片也将直接报废。所以efuse烧写是整个半导体芯片加工制造过程中十分重要的环节,尤其是在封装测试环节十分容易由于efuse的问题而导致大量芯片的报废。Efuse工作包含两个环节:写入和读取。写入是指将有效内容通过某些协议写入到芯片中,读取是指通过某些协议将芯片efuse存储区域的内容读取出来,该动作可以用于检查写入数据是否正确。 一般情况下efuse工作流程如下:首先通过芯片手册确定efuse中不同类型数据的区位分布情况。其次,开发测试代码用于完成传输和收集需要写入的efuse数据。最后将这些需要写入的efuse数据通过指定的协议形式传输到芯片中。基于以上这些步骤,测试工程师需要频繁更新efuse数据管理相关管理相关代码。频繁修改测试代码会严重影响程序的稳定性和安全性,同时也会导致测试代码出错的概率增加。实际操作过程中许多事故都是由于测试代码修改操作导致的,并且通常这些事故都会造成十分严重的经济损失。 为例提升efuse操作环节的稳定性同时简化操作流程,我们开发以一套全新的基于多级分层结构的efuse处理解决方案。这套解决方案通过三层结构管理efuse数据,芯片级, 地址级, 结点级。并且所有更新数据的操作只需要修改对应的表格即可。通过这些结构,可以实现以下优势特点: 1.程序更新只需要很少的代码修改,这将会大大减少发生代码错误的机率 2.程序更新的操作只需要修改表格文件,这可以大大降低操作的难度 3.支持同一颗芯片不同的模块使用不同的协议写入efuse数据 4.使复杂的数据内容重构或重新映射的操作变成简单的表格操作 5.可扩展的程序接口可以用于支持复杂的efuse数据处理,比如efuse数据的编解码操作 6.灵活的代码结构可以实现更加优秀的兼容性 总之,这套efuse处理的解决方案可以很大程度上提升efuse测试代码开发的使用体验,同时还可以在不同产品间做到最大程度的兼容。目前为止,我们已经完成了所有的代码开发并且将其交付给多加客户。通过这套工具,用户可以降低efuse相关代码90%的不稳定性,同时还可以节省60%以上的开发时间。

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